光纜與電纜同是通信線路的傳輸媒質(zhì)，其施工方法基本相似，但因光纖是石英玻璃制成的，光信號(hào)需密封在由光纖包層所限制的光波導(dǎo)管里傳輸，故光纜施工比電纜施工的難度要大在綜合布線工程的施工與結(jié)束的過程中，光纖的施工質(zhì)量是很重要的，因此必須對(duì)其施工質(zhì)量進(jìn)行必要的檢測，本文就監(jiān)測程序進(jìn)行描述，愿讀者都能受益。
檢查和安裝
在接上光纜和安裝了連接器之后，必須進(jìn)行光纖的連續(xù)性檢查，所有的光纜芯都必須經(jīng)過測試。因此，承擔(dān)測試的人員應(yīng)當(dāng)備有一些能夠測試出安裝質(zhì)量的測試設(shè)備。
有兩種測量必須進(jìn)行：光纖和接插件產(chǎn)生衰減的全面測試；能產(chǎn)生光纖連接線路損失曲線示意圖的反射測量。這一測量另外還會(huì)告知人們連接線路的長度、出錯(cuò)點(diǎn)。所有測試的結(jié)果都應(yīng)儲(chǔ)存到驗(yàn)收的電腦數(shù)據(jù)里去。
衰減測量
衰減測量，也稱第一級(jí)測量，用一個(gè)發(fā)射信號(hào)的大功率的校準(zhǔn)發(fā)生器和一個(gè)測量接收的光纖輻射測量儀進(jìn)行。這可以測量線路上的衰減并知道線路或某段線路是否在規(guī)定的公差里。這就是第一水平測量。在每次測量之前，都應(yīng)清洗所有的接插件。為了避免測量錯(cuò)誤，兩架儀器（發(fā)生器和接受器）應(yīng)當(dāng)使用同樣的測量電纜（3米長）。這些電纜應(yīng)當(dāng)具有和所測光纖芯同樣的特點(diǎn)。
測試可以用以下兩個(gè)方法進(jìn)行：一名測試人員進(jìn)行測試，兩架儀器放在同一個(gè)地方，但能與另一處形成回環(huán)；兩名測試人員，兩個(gè)地方各入一架測試儀。
所有測試程序都從校準(zhǔn)接收器開始。為此，須將發(fā)生器和接收器用一根3米長的電纜直接連接在一起。然后向接收器進(jìn)行大功率發(fā)射，再校準(zhǔn)接收器至液晶顯示上出現(xiàn)0dB。用850nm的波長進(jìn)行測試，測試中得到的衰減最大值，等于光纖衰減即這段波長的3.5dB/Km，在此之上增加各種連接所產(chǎn)生的衰減（接插件和接頭）。我們認(rèn)為連接設(shè)備的90％在不超過850nm時(shí)衰減為0.3dB。測試的結(jié)果進(jìn)入驗(yàn)收?qǐng)?bào)告資料。
一名測試人員進(jìn)行測試的方法
一名測試人員的測試要求在最后配線架的不同光纜通過一些長度為10米的光纖跳線構(gòu)成回環(huán)。然后一對(duì)一對(duì)檢測每對(duì)光纖的光芯。發(fā)射器和接收器放在同一地點(diǎn)。用一根長3米的光纖電纜把發(fā)射器連接到光纜頭或光纖屜上的第一根光纖上。用第二根3米長的光纖電纜將接收器連接到第二根光纖上。先測量一下回環(huán)情況，然后測試人員再將接收器連接到第三根光纖上進(jìn)行同樣測試，以同樣方法測試第四、第五和第六根光纖。
測試程序是：校準(zhǔn)接收器、裝上跳線電纜、測量線路并將測試結(jié)果存入電腦中。校準(zhǔn)時(shí)用一根3米長的電纜將發(fā)射器和接收器構(gòu)成回環(huán)。應(yīng)當(dāng)向接收器進(jìn)行大功率發(fā)射并校準(zhǔn)接收器至液晶顯示0dB。如果測試出的值超過了最大希望值，就應(yīng)當(dāng)借助于光纖反射儀來確定故障的地點(diǎn)。
兩位測試人員進(jìn)行測試的方法
這兩位測試人員應(yīng)當(dāng)擁有一些通信工具以便于及時(shí)交流：電話，對(duì)講機(jī)。
檢測是一芯一芯進(jìn)行的。一個(gè)測試人員帶有一個(gè)光信號(hào)發(fā)生器，另一位測試人員通過接收器記錄測試結(jié)果。在這種情況下，兩名測試人員分別在不同的兩端。所說的不同是測試只在單向進(jìn)行，不再兩次計(jì)算光纖跳線電纜的3米長度。測試的線路如下：
用反射測量儀測量
用反射測量儀測量，又稱第二級(jí)測量，其目的是測看光纖芯的物理狀態(tài)。損耗的分布可以在顯示屏上顯示并打櫻各測量結(jié)果也同樣編入驗(yàn)收?qǐng)?bào)告。
測量原理如下：反射測量儀發(fā)出一個(gè)大功率的校準(zhǔn)光束，然后觀察顯示屏上是否有一個(gè)視覺看得見的反射功率信號(hào)出現(xiàn)。這一反射是構(gòu)成光纖的硅的不完全性導(dǎo)致的，與直線性衰減相一致。反射信號(hào)的其余部分等于接插部分可能的故障部分的反射。同時(shí)，這些損耗可以被定位并檢測出光纜的確切長度。
這些測試采用波長850nm。但如果人們需要為網(wǎng)絡(luò)的未來發(fā)展趨勢測出布線的等級(jí)，也可以用1300nm。測試中得到的最高衰減值等于光纖衰減值，即850nm時(shí)為3.5dB，1300nm時(shí)為2dB，在此之上加上各連接部分產(chǎn)生的衰減。我們認(rèn)為接插部分的90%在為超過850nm時(shí)衰減為0.3dB和在不超過1300nm時(shí)衰減為0.2dB。這些測試可以檢測出光纖是否處于某個(gè)不正常情況（彎曲半徑，過分拉拽或擠壓），也可檢測出是否有斷線，斷線是否因?yàn)椴僮鞑划?dāng)，也能知道ST接插件是否連接得正確。
結(jié)語
要提高綜合布線系統(tǒng)的質(zhì)量，就要對(duì)布線的各個(gè)環(huán)節(jié)進(jìn)行認(rèn)證測試，只有這樣才能保障布線系統(tǒng)始終如一的高品質(zhì)和高可靠性。只有達(dá)到了質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的布線系統(tǒng)才能放心大膽地支持各種高速、復(fù)雜的應(yīng)用，而不是臨到要開通、升級(jí)應(yīng)用時(shí)才發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)有潛在的質(zhì)量問題，導(dǎo)致絕損失。
責(zé)任編輯：小柯
